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諾瓦星云科技:MiniLED校正解決方案

來源:諾瓦科技        編輯:swallow    2020-09-08 16:44:59     加入收藏

諾瓦推出的MiniLED校正解決方案,通過CIE-XYZ科學級校正相機,配合貼近人眼的XYZ濾片,確保MiniLED采集的準確性。全灰階校正通過逐級灰階測量與優化,解決灰階實現不準的難題。

  隨著越來越多的LED廠家進入MiniLED領域,更小的點間距依賴新的封裝工藝來提升顯示屏的可靠性和防護性,其中COB和四合一就是一個主要的趨勢。這一趨勢在為觀眾更好的觀看體驗、提升屏的可靠性和防護性能、更加節能之外,也給行業帶來新的挑戰。

  一方面,新工藝更新之后,傳統校正技術難以滿足均勻性要求。如下圖所示,COB校正后依然會存在明顯色塊。

  為什么會存在這一問題?

  在SMD表貼燈珠的時期, 燈的點間距較大,燈對燈的亮度干擾相對有限。另外也沒有膠體的反射干擾,這樣我們就可以采集到相對準確的亮度值。

  而在MiniLED時代,點間距越來越小,燈與燈的物理位置越來越近,導致燈與燈的亮度相互串擾明顯,圖像模糊重疊等現象愈發明顯。 除此之外,新工藝中表面膠體的封裝,導致光在傳遞中二次反射影響,造成光源干擾的加劇,對采集燈珠亮色度的準確性造成了影響。

  另一方面,低灰表現和高灰表現有顯著差異,低灰段不一致性問題凸顯。

  為什么會存在這一問題?

  低灰階效果和我們的電路設計、芯片的選型、硬件控制都有關聯;低灰系數又極易受到以上條件的輕微影響而實現不準確,導致效果變差。

  PWM驅動帶來的低灰量化誤差

  MiniLED校正解決方案

  1、采用科學級相機,提高測量精度。

  采用符合人眼感知特性的CIE-XYZ濾片,反映人眼真實感知。

  CIE-XYZ科學級相機

CIE-XYZ濾片光譜曲線

  常規相機處于成本的考慮,使用簡易的Bayer濾片,Bayer濾片光譜不穩定,還存在毛刺過渡不平滑,這會導致嚴重的光譜測量誤差。

  諾瓦打造的CIE-XYZ科學級相機的關鍵就在于CIE-XYZ濾片技術。諾瓦通過多年的濾片設計創新,持續的迭代,推出LED測量設計的濾片標定算法,確保測量的準確性。CIE-XYZ科學級相機選用多組轉輪,多次測量,得到符合人眼特性的測量數據,使得校正后更加貼近人眼感知的畫面效果。

  2、改進校正流程,增加消除混光處理。

  諾瓦對采集圖像二次處理、還原自身亮度數據,重新計數真實亮度下的校正數據。提升屏體的均勻性,使得顯示效果更加細膩,這就是MiniLED全新的混光消除技術。

  3、通過全灰階校正技術,提升灰階表現精度。

  通過光槍CA-410采集灰階數據,再通過灰階修正工具計算修正系數,對各灰階進行補償,改善非線性響應,最終通過硬件編碼,在諾瓦A8s、A10s Plus接收卡上使得灰階顯示臺階問題得到優化。

  我們來看一組低灰階實拍圖,看看在全灰階校正前后的對比效果,我們會發現校正后的顯示屏畫面相較于校正前,麻點、色塊、偏色的問題均得到了顯著改善,均勻性和畫面細膩度大幅提升。

  這就是諾瓦推出的MiniLED校正解決方案。通過CIE-XYZ科學級校正相機,配合貼近人眼的XYZ濾片,確保MiniLED采集的準確性。全灰階校正通過逐級灰階測量與優化,解決灰階實現不準的難題。

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